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產品中心導熱儀LZT-導熱/塞貝克聯(lián)測儀LZT-Meter (LZT L33)導熱系數(shù)/塞貝克系數(shù)聯(lián)測儀
產品簡介：林賽斯 導熱系數(shù)/塞貝克系數(shù)聯(lián)測儀 LZT-Meter（LZT L33）將激光閃射法（LFA）測熱導率與靜態(tài)直流法測塞貝克系數(shù)/電阻率集于一體。僅需一個圓盤樣品，即可在一次測試中完成熱電優(yōu)值（ZT值）的全參數(shù)表征。集成化設計覆蓋-100℃至1100℃溫區(qū)，可選配多種爐體，在節(jié)省空間與成本的同時，確保高精度與高可靠性，是熱電材料研發(fā)的理想解決方案。
產品型號：LZT-Meter (LZT L33)
更新時間：2026-02-05
廠商性質：生產廠家
訪問量：15413
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林賽斯 導熱系數(shù)/塞貝克系數(shù)聯(lián)測儀 LZT-Meter（LZT L33）可以通過在單個設備中組合激光導熱儀和塞貝克系數(shù)測量儀來確定熱電優(yōu)值（ZT值）的商用儀器。因此，該測量設備既可以通過使用激光閃射法獨立測定導熱系數(shù)，也能夠通過 LSR 測量系統(tǒng)測量電阻率和塞貝克系數(shù)。
其優(yōu)勢顯而易見：導熱系數(shù)/塞貝克系數(shù)聯(lián)測儀 這種集成式設計既能節(jié)省昂貴的實驗室空間，又能節(jié)省因配備雙爐體、測量電子設備和其他設備而產生的不必要費用。因此，對于那些重點不在于高樣品處理量，而在于測量質量和成本效益的研發(fā)應用來說，LZT L33 測量儀是理想的解決方案。因為對于樣品的完整熱電優(yōu)值（ZT）特性表征而言，僅需一個圓盤形狀的樣品就足夠了。
該設備還可選配三種不同的加熱爐：一種新型紅外爐（用于在非常高和極低的加熱速率下進行精確的溫度控制）以及低溫爐和高溫爐。
| 類型 | LZT-Meter (LZT L33) | ||
| 溫度范圍： | 紅外加熱爐：RT - 800°C / 1100°C 低溫爐：-100°C - 500°C | 導熱 | |
| 測試方法： | 塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流法/斜率法 電阻：四端法 | 脈沖源： | Nd：YAG 激光器（25 J/pulse） |
| 測量原理： | 基于芯片構造 (預結構化的測量芯片，每盒 24 個) | 脈沖寬度： | 0.01 - 5 ms |
| 氣氛： | 惰性、還原性、氧化性、真空環(huán)境 氦氣：建議使用低壓氦氣 | 探測器： | InSb / MCT |
| 樣品支架： | 在兩個電極之間垂直夾緊 用于箔和薄膜的可選適配器 | 導熱系數(shù)： | 0.01 - 1000 mm2/s |
樣品尺寸： (圓柱體或矩形) | 2-5 mm (邊長/直徑) x 6-23 mm (高) | 插件： | LSR-4 升級 |
樣品尺寸： (圓盤形狀) | 10、12.7、25.4 mm | 直流哈曼法： | 在熱電腿上直接測量 ZT |
| 熱電偶測量距離： | 4、6、8 mm | 交流阻抗譜： | 在熱電模塊（TEG/Peltier 模塊）上直接測量 ZT |
| 冷卻水： | 需要 | 溫度范圍： | -100 - 400 °C RT - 400 C °C |
| 塞貝克系數(shù) ： | 1 μV/K - 250 mV/K（靜態(tài)直流法） | 樣品架： | 用于絕熱測量條件的針式觸點 |
| 電導率： | 0.01 - 2×105 S/cm | 樣品尺寸： | 2 - 5 mm (邊長/直徑) x 6 - 23 mm (高) 模塊尺寸為 50 x 50 mm |
| 電源： | 0 至 160 mA 的低漂移電流源 | ||
| 電極材料： | 鎳（-100 至 500 °C） 鉑（-100 至 1500 °C） | ||
| 熱電偶： | 型號 K / S / C | ||
應用
企業(yè)名稱：林賽斯（上海）科學儀器有限公司
公司地址：上海市浦東新區(qū)陸家嘴數(shù)智天地·智慧谷T3棟120號
企業(yè)郵箱：links@linseis.com.cn
聯(lián)系電話：021-50550642
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